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产品中心
DSP+FPGA双核教学实验箱：TL28335F-TEB
产品系列：C2000，Spartan-6
匹配课程：《DSP技术与应用》，《FPGA技术与应用》
处理器架构：DSP，FPGA
实验箱简介
软硬件参数
开发资料
电气特性
实验箱机械尺寸
实验箱套件清单
附录A 教学实验
附录B 开发例程
技术支持
增值服务
实验箱简介
基于TI TMS320F28335浮点DSP C28x + Xilinx Spartan-6 FPGA处理器，主频为150MHz；
可拆式新型实验箱，使用灵活，性价比高。由核心板、实验开发底板、仿真器及相关实验配件组成，可选3寸全功能触摸彩屏信号源；
DSP实验主板支持：I2C、SPI、CAN、PWM、RTC、以太网口、音频输入输出、多通道AD、DA、RS232、RS485、LCD等接口和蜂鸣器、红外接收器、继电器、LED等外设；
工业级DSP核心板，尺寸为66mm*39mm，采用排针接口连接，可用于科学研究、毕业设计、电子竞赛、产品开发使用；
FPGA实验主板支持：步进电机、直流电机、4*4矩阵键盘、数码管、十字交通灯、温湿度传感器、可调直流电压输出、ADC输入、DAC输出、5V输出、3V3输出；
实验主板上均支持安装可拆卸亚克力保护板，保护实验电路；
工业级FPGA核心板，尺寸56mm*35mm，体积小，采用工业级B2B连接器；
不仅提供面向教学的实验资源，而且提供工程应用上的开发例程；
适用于通信、自动化、测控、工业控制和电力控制等教学领域。
TL28335F-TEB实验箱外观图
TL28335F-TEB实验箱整体图
TL28335F-TEB实验箱主体正面图
DSP实验主板正面图
FPGA实验主板正面图
仿真器侧视图
TL28335F-TEB实验箱是一款创龙结合TI C2000系列TMS320F28335及Xilinx Spartan-6系列FPGA设计的DSP+FPGA高速数据采集处理平台，TL28335F-TEB是可拆式新型嵌入式教学实验箱，提供了丰富的教学实验例程，适合高校以及研究所等实验机构；
可拆式DSP+FPGA实验箱TL28335F-TEB提供的实验指导手册包括实验目的、原理、步骤及源码解析等，注重实验的过程，内容详实且丰富，可以帮助学生打好专业基础，也有利于教师教学计划的开展；
此外，实验箱提供的工程资源开发例程可以用于师生项目开发，降低开发难度和时间成本。相对传统的实验箱，使用更加灵活，用途更广，性价比更高。
软硬件参数
硬件框图
DSP实验主板硬件资源图解1
DSP实验主板硬件资源图解2
FPGA实验主板硬件资源图解1
FPGA实验主板硬件资源图解2
TL28335F-TEB实验箱结构图
硬件参数
- DSP实验主板硬件参数 -
| CPU | 单核TMS320F28335，主频150MHz |
| ROM | 片内256K*16bit，外扩512K*16bit NOR FLASH |
| RAM | 片内34K*16bit，外扩256K*16bit SRAM |
| EEPROM | 2Kbit，AT24C02C |
| LED | 2x供电指示灯（底板1个，核心板1个） |
| 6x用户指示灯（底板4个，核心板2个） | |
| KEY | 1x复位按键 |
| 3x用户按键 | |
| SD | 1x Micro SD卡座 |
| IO | 2x 25pin IDC3简易牛角座，间距2.54mm，含XINTF/UART/I2C等拓展信号 |
| 2x 10pin排针，间距2.54mm，含ePWM、GPIO等拓展信号 | |
| 2x 10pin排针，间距2.54mm，eQEP、SPI、I2C、GPIO等信号 | |
| ETHERNET | 1x MII，RJ45接口，10/100M自适应 |
| UART | 1x UARTA，提供4针TTL电平测试端口 |
| 1X USB TO UARTB，Micro USB接口，提供4针TTL电平测试端口 | |
| 1x UARTC，RS232，DB9接口，提供4针TTL电平测试端口 | |
| 1x RS485，3pin接线端子，间距3.81mm | |
| eCAN | 2x eCAN，3pin接线端子，间距3.81mm |
| LCD | 1x 1602液晶屏接口 |
| 1x 12864液晶屏接口 | |
| 1x 4.3寸TFT触摸屏接口 | |
| BUZZER | 1x无源蜂鸣器 |
| RELAY | 1x 5V继电器 |
| RTC | 1x RTC，CR1220纽扣电池座 |
| IRM | 1x HX1838红外接收模块 |
| ADC | 片上2个8通道 12bit ADC，共16通道，量程范围0-3V，10pin接线端子，间距2.54mm |
| DAC | 外扩单通道10bit DAC，1.21MHz更新速率，量程范围0-5V，2pin接线端子，间距2.54mm |
MOTOR INTERFACE | 1x五线四相步进电机的5pin接线端子，间距2.54mm |
| 1x 5V直流电机的2pin接线端子，间距2.54mm | |
| AUDIO | 1x LINE IN，3.5mm音频座 |
| 1x LINE OUT，3.5mm音频座 | |
| 1x MIC IN，3.5mm音频座 | |
| JTAG | 1x 14pin TI Rev B JTAG接口，间距2.54mm |
| BOOT SET | 1x 4bit开关 |
| POWER | 1x 5V 2A直流输入，DC-005电源接口 |
- FPGA实验主板硬件参数 -
| FPGA | Xilinx XC6SLX16-2CSG324I |
| ROM | 2Kbit EEPROM |
| 8MByte QSPI Flash | |
| RAM | 256MByte DDR3 |
| LED | 2x电源指示灯（底板1个，核心板1个） |
| 1x DAC 输出波形指示灯（底板） | |
| 1x PROGRAM指示灯（核心板） | |
| 2x用户指示灯（核心板2个） | |
| 1x十字交通灯，用于交通灯控制实验 | |
| KEY | 1x 4*4矩阵按键 |
| UART | 1x RS232，DB9接口 |
| 1x RS485，3pin接线端子，间距3.81mm | |
| ADC | 8x ADC，16bit，200KHz，±10V |
| DAC | 1x DAC，10bit，0-5V |
| NIXIE TUBE | 1x四位八段数码管，用于数码管显示实验 |
| SENSOR | 1x温湿度传感器 |
| IO | 1x 16路PWM输出，3.3V电平，2x 10pin排针引出，也可用作GPIO |
| 2x 25pin IDC3简易牛角座，间距2.54mm，含GPIO拓展信号 | |
| MOTOR | 1x五线四相步进电机 |
| 1x直流电机，带霍尔传感器测速功能 | |
| POWER OUTPUT | 提供3.3V和5V输出到外部 |
| 1x 0~5V可调直流电压输出，用于ADC采集 | |
| JTAG | 1x 14pin JTAG接口，间距2.0mm |
| SWITCH | 1x电源开关 |
| POWER | 1x 5V 2A直流输入，DC-005电源接口 |
- 仿真器参数 -
| 型号 | XDS100V2 |
| 调试功能 | 连接/断开，读/写内存，读取寄存器，加载程序，运行、停止步骤，支持断点调试，实时模式 |
| JTAG复位 | 支持 |
| ETB(Embedded Trace Buffer) | 支持 |
| 目标电缆断开检测 | 支持 |
| 目标芯片掉电检测 | 支持 |
| USB 2.0高速（480Mbit/s） | 支持 |
| 20pin/14pin JTAG接口 | 支持 |
- 下载器参数 -
| 型号 | Xilinx FPGA DLC10下载器 |
| 操作系统 | 支持Windows和Linux操作系统 |
| 支持软件 | 支持ISE、iMPACT、ChipScope、Vivado等软件 |
| 支持器件 | 支持FPGA、SoC、CPLD、PROM等Xinlinx器件 |
| I/O电压 | 自动检测和适应I/O电压 |
| 接口电平器件 | 支持5V(TTL)、3.3V(LVCMOS)、2.5V、1.8V和1.5V接口电平器件 |
| VREF电平范围 | 1.5V~5.0V |
| 编程速率 | 由750KHz到24MHz，可对SPI接口FLASH PROM器件进行编程 |
| 热拔插 | 支持 |
软件参数
| DSP端软件支持 | 裸机 |
| CCS版本号 | CCS5.5 |
| ISE版本号 | ISE14.7 |
开发资料
创龙提供了大量的开发资料，创造了TMS320F28335平台开发的新局面，已成为TMS320F28335开发者的重要合作企业。
教学资源
提供完整的实验代码，以及适合教学的《教学实验指导手册》。 目录详见附录A，教学实验主要包括：
· DSP实验环境搭建与CCS开发基础
· DSP基础外设实验
· 网络通讯实验
· 语音类实验
· DSP算法实验
· 图像类实验
· FPGA实验环境搭建与ISE开发基础
· FPGA基础外设实验
· DSP与FPGA双核通信实验
工程资源
提供核心板引脚定义、可编辑底板原理图、可编辑底板PCB、芯片Datasheet，缩短硬件设计周期； 
提供丰富的Demo程序，包括镜像和源代码，上手容易； 
提供DSP与FPGA通过XINTF、UART、I2C等板间通讯例程； 提供完整的平台开发包、入门教程，节省软件整理时间。 工程开发例程详见附录B，开发例程主要包括：
· DSP开发例程
· FPGA开发例程
· FPGA&DSP开发例程
电气特性
核心板工作环境
| 环境参数 | 最小值 | 典型值 | 最大值 |
|---|---|---|---|
| 工业级温度 | -40℃ | / | 85℃ |
| 工作电压 | / | 5V | / |
DSP实验主板功耗测试
| 类别 | 典型值电压 | 典型值电流 | 典型值功耗 |
| 核心板 | 4.97V | 261mA | 1.29W |
| 实验主板 | 5.06V | 560mA | 2.82W |
备注：功耗测试基于广州创龙TL28335-EVM开发板进行。
实验箱机械尺寸
| 名称 | 长 | 宽 | 高 |
|---|---|---|---|
| 实验箱箱体 | 480MM | 350MM | 175MM |
| 实验主板 | 185MM | 135MM | / |
| 实验拓展板 | 185MM | 135MM | / |
实验箱套件清单
| 名称 | 数量 |
| TL28335F-TEB DSP实验主板 | 1块 |
| TL28335F-TEB FPGA实验主板 | 1块 |
| TL-XDS100V2仿真器 | 1个 |
| DLC10 FPGA下载器 | 1个 |
| 12V 2A电源适配器 | 1个 |
| 资料光盘 | 3套 |
| 1602 液晶屏 | 1个 |
| 12864液晶屏 | 1个 |
| RS232交叉串口母母线 | 1条 |
| USB转RS232串口线 | 1条 |
| Micro USB线 | 1条 |
| 网线 | 1根 |
| 红外遥控器 | 1个 |
| 音频线 | 1根 |
| RS485转串口模块 | 1个 |
| usb转uart串口隔离模块 | 1个 |
| 耳机 | 1个 |
| 杜邦线 | 若干 |
| 导线 | 若干 |
| SD卡 | 1个 |
| 读卡器 | 1个 |
附录A 教学实验
- DSP教学实验 -
| DSP实验环境搭建与CCS开发基础 | 安装CCS与串口调试工具 |
| CCS开发入门 | |
| 基于CCS仿真调试、程序加载与烧写 | |
| CCS工程新建、编译和导入 | |
| 编写基于C语言的DSP程序 | |
| DSP基础外设实验 | LED灯控制及寄存器配置实验 |
| 按键输入控制实验（按键中断输入） | |
| LCD触摸屏触控与图片显示实验 | |
| 液晶LCD12864测试实验 | |
| 液晶LCD1602测试 | |
| RS485测试实验 | |
| 红外遥控测试 | |
| ECAN内部回环与数据通信测试实验 | |
| DMA在RAM内外搬移数据实验 | |
| EPWM测试实验 | |
| 单精度浮点运算实验 | |
| UART串口收发实验（查询与中断方式） | |
| 高精度脉冲宽度调制器PWM输出测试实验 | |
| 定时器/计数器控制实验 | |
| 看门狗功能测试实验 | |
| 模数转换（A/D）测试实验 | |
| 数模转换（D/A）测试实验 | |
| 直流电机控制实验 | |
| 步进电机控制实验 | |
| 网络通讯实验 | |
| FPGA温湿度传感器测试实验 | |
| 语音类实验 | 音频采集与播放测试实验 |
| G711A音频编解码实验 | |
| DSP算法实验 | 有限冲激响应滤波器（FIR）算法 |
| 无限冲激响应滤波器（IIR）算法 | |
| 快速傅立叶变换（FFT）算法 | |
| 语音信号的FIR滤波 | |
| 图像类实验 | 灰度图像直方图 |
| 直方图均衡化 | |
| 图像反色 | |
| 边缘检测 |
- FPGA教学实验 -
| FPGA实验环境搭建与ISE开发基础 | 安装ISE集成开发环境工具 |
| ISE工程新建和程序编写 | |
| 基于ISE仿真调试、程序加载与烧写开发入门 | |
| FPGA基础外设实验 | LED灯控制实验 |
| 按键与4x4键盘输入控制实验 | |
| 数码管显示实验 | |
| I2C EEPROM测试实验 | |
| UART串口收发实验 | |
| 模数转换（A/D）测试实验 | |
| 数模转换（D/A）测试实验 | |
| 直流电机控制实验 | |
| 步进电机控制实验 | |
| DSP与FPGA双核通信实验 | DSP和FPGA使用XINTF通信测试实验 |
附录B 开发例程
- DSP开发例程 -
| 例程 | 功能 |
| ADC_DMA | DMA方式存取ADC转换结果 |
| ADC_SEQ_OVD_TEST | ADC序列覆盖模式采样 |
| ADC_SOC | PWM1周期触发AD转换 |
| ADC_SQE_MODE | ADC顺序采样测试 |
| AUDIO_LINE_IN | 音频Line In测试 |
| AUDIO_LINE_OUT | 音频Line Out测试 |
| AUDIO_MIC_IN | 音频Mic In测试 |
| BUZZER | 蜂鸣器测试 |
| CPU_TIMER | 定时器演示 |
| DAC | DAC电压输出测试 |
| DMA_RAM_TO_RAM | DMA在RAM内搬移数据 |
| DMA_XINTF_TO_RAM | DMA在内外部RAM搬移数据 |
| ECAN_A_TO_B | ECANA与ECANB间的数据通信测试 |
| ECAN_BACK_TO_BACK | ECAN内部回环测试 |
| ECAP_CAPTURE_PWM | ECAP配置为PWM输出 |
| ECAP_EPWM | ECAP捕捉EPWM |
| ECAP_REMOTE | 红外遥控测试 |
| EEPROM | EEPROM存储器测试 |
| EPWM_DEADBAND | EPWM死区演示 |
| EPWM_DMA | EPWM触发DMA传输 |
| EPWM_TIMER_INTERRUPTS | EPWM定时器中断 |
| EPWM_TRIP_ZONE | EPWM故障区演示 |
| EPWM_UP_AQ | EPWM向上计数 |
| EPWM_UPDOWM_AQ | EPWM向上向下计数 |
| EQEP_FREQCAL | 增强型正交编码脉冲单元测量EPWM频率 |
| EQEP_POS_SPEED | 增强型正交编码脉冲单元测量EPWM频率 |
| EXT_INT | 外部中断 |
| FPU_HARDWARE | 单精度浮点运算硬件实现 |
| FPU_SOFTWARE | 单精度浮点运算软件实现 |
| HRPWM | 高分辨率PWM |
| HRPWM_SFO | 高分辨率pwm用SFO实现周期计数递增 |
| HRPWM_SFO_V5 | 高分辨率PWM占空比调节 |
| HRPWM_SLIDER | 高分辨率PWM滚动条调整MEP |
| KEY_LED | 按键中断LED测试 |
| LCD1602 | 液晶LCD1602测试 |
| LCD12864 | 液晶LCD12864测试 |
| LED | LED流水灯测试 |
| NOR_FLASH | NOR FLASH存储器测试 |
| RELAY | 继电器测试 |
| RTC | RTC实时时钟测试 |
| SCIA | 串口A测试（TTL电平） |
| SCIB | 串口B测试 |
| SCIC_RS485 | 串口C（RS485）测试 |
| SRAM | SRAM存储器测试 |
| SD_FAT32 | MicroSD卡测试 |
| W5300_PING | 网络PING测试实验 |
- FPGA开发例程 -
| 例程 | 功能 |
| STEP_MOT | 步进电机测试 |
| DC_MOT | 直流电机测试,，带霍尔传感器测速 |
| MATRIX_KEY | 4*4矩阵键盘测试 |
| NIXIE_TUBE | 数码管测试 |
| TRAFFIC_LIGHT | 交通灯测试 |
| RS232 | FPGA端RS232通信 |
| RS485 | FPGA端RS485通信 |
| DDR3 | DDR3测试 |
| EEPROM | EEPROM读写 |
| LED | 核心板LED |
| ADC | 电压采集测试 |
- FPGA&DSP开发例程 -
| 例程 | 功能 |
| DHT11 | DSP与FPGA通信例程 |
| XINF_FPGA | DSP和FPGA使用XINTF通信测试实验 |
技术支持
01
协助底板设计和测试，减少硬件设计失误；
02
协助解决按照用户手册操作出现的异常问题；
03
协助产品故障判定；
04
协助正确编译与运行所提供的源代码；
05
协助进行产品二次开发；
06
提供长期的售后服务。
增值服务
主板定制设计
核心板定制
嵌入式软件开发
项目合作开发
技术培训
| 资料名称 | 更新时间 | 操作 |
|---|---|---|
| TL28335F-TEB实验箱规格书.pdf | 2022-09-21 |
| 资料名称 | 更新时间 | 操作 |
|---|---|---|
| TL28335F-TEB实验箱产品资料 | 2022-09-14 |